火花光電直讀光譜OES8000S

  火花光電直讀光譜OES8000S采用CMOS檢測器全譜測試技術(shù)，可測試覆蓋波長范圍內(nèi)的所有譜線，配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護和實驗室放置。OES8000S是全面測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器。

  火花光電直讀光譜OES8000S采用全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現(xiàn)場補充配置，儀器體積小巧，對實驗室空間要求低，全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性，樣品測試速度快，單次測試過程少于30秒。儀器使用和維護簡單、方便，對人員專業(yè)要求低，原廠安裝分析程序，測試數(shù)據(jù)精確，適用合金牌號齊全，配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對儀器進行周期性校正，不使用化學(xué)試劑，測試過程安全、環(huán)?！?/span>

  火花光電直讀光譜OES8000S工作條件

  工作溫度：15-30℃

  相對濕度：≤70%

  電源：220±5V,單相50Hz,接地電阻<1歐

  實驗室無震動、粉塵、強電磁干擾、強氣流、腐蝕性氣體

  火花光電直讀光譜OES8000S輔助設(shè)備

  高純氬氣——純度99.999%以上

  交流參數(shù)穩(wěn)壓電源—-1KVA

  光譜磨樣機——用于鋼鐵、鎳合金等樣品

  小型車床——用于鋁、銅、鋅、鎂合金等樣品

  空調(diào)——依實驗室面積配置匹配功率

  火花光電直讀光譜OES8000S技術(shù)優(yōu)勢

  全譜檢測全面測試各種金屬和元素 基于CMOS檢測器全譜測試技術(shù)，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實現(xiàn)多基體、多元素的測試。配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。

  專業(yè)的測試方案 長期測試技術(shù)服務(wù)的積淀，為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。 測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶常見測試需求。分析程序由原廠采用國際、國家標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)專業(yè)儀器軟件擬合、校正。 用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護，不需購買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

  國際供應(yīng)商提供核心部件 光譜色散元件——光柵由法國JY制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力，光譜檢測器——高性能CMOS由日本濱松Hamamatsu制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲。

  光室真空系統(tǒng)  光室真空腔體經(jīng)精密設(shè)計和加工，密閉性能優(yōu)異，為光路提供優(yōu)質(zhì)的高真空環(huán)境。因此真空泵啟動時間和次數(shù)極少，電力消耗極少，更好保持光室清潔。

  火花光電直讀光譜OES8000S測試示例

  樣品取樣 樣品取樣可分為熔體取樣和成品取樣。熔體取樣需將金屬液體注入模具中凝固成塊狀樣品。成品取樣需考慮尺寸、形狀來考慮是否需切割樣品。

  樣品預(yù)處理 高硬度金屬(如鋼鐵、鎳合金、鈷合金)使用光譜磨樣機打磨樣品的測試面，低硬度金屬(如鋁合金、銅合金、鋅合金、鎂合金)使用成床車削樣品的測試面，使樣品表面平整、光潔、劃痕一致。

  樣品測試 將樣品放置于樣品激發(fā)臺上，操作計算機軟件啟動儀器測試過程，測試完成可同時顯示所有配置元素。單次測試過程少于30秒，一般建議同一樣品測試三次。

  火花光電直讀光譜OES8000S測試結(jié)果示例

   火花光電直讀光譜OES8000S檢測范圍：鐵基、鋁基、銅基、鋅基、鎂基、錫基、鉛基、鈦基、鎳基、鈷基、銀基等

   火花光電直讀光譜OES8000S應(yīng)用領(lǐng)域：冶金、有色金屬冶煉與加工、鋰電材料、鑄造、汽車配件、高鐵、石油化工、高校、研究所、第三方檢測機構(gòu)等。